In-system photoelectron spectroscopy study of tin oxide layers produced from tetrakis(dimethylamino)tin by plasma enhanced atomic layer deposition
Info:
Journal of Vacuum Science & Technology A 36, 02D401 (2018)
Author Information
| Name |
Institution |
| Ganna Chistiakova | Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH |
| Mathias Mews | Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH |
| Regan G. Wilks | Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH |
| Marcus Bär | Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH |
| Lars Korte | Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH |
Films
Film/Plasma Properties
Analysis: XPS, X-ray Photoelectron Spectroscopy
Analysis: XPS, X-ray Photoelectron Spectroscopy
Substrates
Notes